產品概述

Surtronic® Duo II 是泰勒霍普森公司推出的高性能便攜式表面粗糙度測量儀，采用創(chuàng)新的分體式設計，支持一鍵快速測量多種國際標準粗糙度參數。廣泛應用于制造業(yè)、重工業(yè)、航空航天、汽車、建筑等多個領域的質量控制與檢測場景。

核心特點

1. 創(chuàng)新分體式結構

• 雙單元設計：由顯示控制單元與驅動單元組成，通過滑軌和鎖定裝置連接

• 靈活分離使用：兩單元可無線分離（距離 1 米），便于測量深孔、管道內壁等難以觸及區(qū)域

• 藍牙 5.1 無線通信：擺脫線纜束縛，提升操作自由度與現場適應性

2. 高精度多參數測量

• 支持參數：Ra（輪廓算術平均偏差）、Rz（微觀不平度十點高度）、Rp（峰高）、Rv（谷深）、Rt（輪廓高度）等

• 測量范圍：

• Ra：0 ~ 40 μm

• Rz/Rp/Rv/Rt：0 ~ 199 μm

• 分辨率：0.01 μm

• 精度：±(5% 讀數 + 0.1 μm)，確保結果可靠

3. 傳感與驅動技術

• 金剛石測針：測頭半徑 5 μm，耐磨、高靈敏度

• 壓電傳感器 + 精密電機：以 2 mm/s 恒速移動，測量行程達 5 mm

• 2.4 英寸彩色 LCD 屏：實時顯示數值與表面輪廓圖，直觀清晰

4. 優(yōu)異的便攜性與續(xù)航

• 輕巧設計：整機約 200g，符合人體工學，支持手持或腰掛

• 長續(xù)航電池：內置 2000mAh 鋰聚合物電池，單次充電可完成 2000+ 次測量 或連續(xù)工作 4 小時

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