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更新時(shí)間：2026-01-13 
瀏覽次數(shù)：310菲希爾X射線測(cè)厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN500雙功能一體化測(cè)量
單次測(cè)量同時(shí)獲取涂層厚度與材料成分?jǐn)?shù)據(jù)，無需重復(fù)操作
支持多層涂層(如 ZnNi/Cu/Ni/Cr) 與合金涂層(如鋅鎳合金) 的精確分析
采用菲希爾基本參數(shù)法 (FP 法)，可在無需校準(zhǔn)標(biāo)樣的情況下分析固、液態(tài)樣品
菲希爾X射線測(cè)厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN500高精度測(cè)量系統(tǒng)
高分辨率硅漂移檢測(cè)器 (SDD)，提供分析精度與探測(cè)靈敏度，尤其適合超薄鍍層測(cè)量
3 點(diǎn)支撐設(shè)計(jì)，確保每次測(cè)量時(shí)位置準(zhǔn)確、儀器穩(wěn)定，提升重復(fù)性精度
測(cè)量點(diǎn)直徑3 毫米，適合小面積樣品檢測(cè)
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