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Surtronic S128是泰勒霍普森S116的基礎上，針對高精度、復雜表面的測量需求進行了全面升級，憑借更寬的測量范圍、更*的參數(shù)分析能力，成為航空航天、精密模具、光學等領(lǐng)域表面質(zhì)量檢測的核心設備。

儀器的核心優(yōu)勢在于其的測量性能：測量范圍拓展至400μm，可應對鑄鍛件毛坯、大型工件粗加工表面等高粗糙度數(shù)值的測量；分辨率達5nm，噪音地板低至50nm，能精準捕捉納米級的表面微觀紋理變化，滿足航空航天發(fā)動機葉片、精密軸承等對表面質(zhì)量要求高的零部件檢測需求。同時，S128支持ISO 13565-1/2等高級標準，可分析Rk、Rpk、Rvk、Mr1、Mr2等核心粗糙度參數(shù)，幫助用戶深入理解表面的承載能力、潤滑性能與耐磨特性，為工藝優(yōu)化提供數(shù)據(jù)支撐。

在操作便捷性上，S128同樣配備4.3英寸工業(yè)級彩色觸摸屏，操作邏輯簡潔直觀，一頁可顯示多達7個參數(shù)與系統(tǒng)信息。標配50mm長測針升降裝置與直角附件，孔深可達70mm，無需額外工裝即可測量深孔、窄槽等挑戰(zhàn)性位置；防滑V型腳架與可翻轉(zhuǎn)測針設計，讓儀器能穩(wěn)定適配平滑、彎曲或倒置的測量表面。

數(shù)據(jù)存儲與管理方面，S128支持大容量U盤擴展，可將不同部件的測量數(shù)據(jù)分類存儲，方便集中管理與轉(zhuǎn)移。通過miniUSB接口連接電腦后，可搭配Talyprofile系列PC軟件（Lite/Silver/Gold），實現(xiàn)數(shù)據(jù)分析、報告生成與實驗室級質(zhì)量管控，滿足航空航天、精密制造等領(lǐng)域?qū)?shù)據(jù)追溯與深度挖掘的嚴格要求。