菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDL230測(cè)厚儀

菲希爾X射線測(cè)厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL230核心特性與技術(shù)參數(shù)

以下是XDL230的主要技術(shù)規(guī)格匯總：

特性類別具體參數(shù)與說明

測(cè)量原理能量色散型X射線熒光光譜法（ED-XRF）

測(cè)量方式無損檢測(cè)，可自動(dòng)聚焦

元素分析范圍氯（Cl, 17號(hào)元素）至鈾（U, 92號(hào)元素）

測(cè)量能力最多可同時(shí)測(cè)量24種元素和23層鍍層

X射線源鎢靶X射線管，高壓三檔可調(diào)：30kV, 40kV, 50kV

探測(cè)器比例接收器

準(zhǔn)直器（測(cè)量點(diǎn)大小）標(biāo)準(zhǔn)為φ0.3mm圓形，可選φ0.1mm、φ0.2mm及0.3mm x 0.05mm長(zhǎng)方形。最小測(cè)量點(diǎn)直徑約0.2mm

測(cè)量距離0 - 80mm，采用保護(hù)的DCM（測(cè)量距離補(bǔ)償法），便于測(cè)量復(fù)雜形狀樣品

樣品定位高分辨率CCD彩色攝像頭（40x-160x放大），激光定位點(diǎn)，LED照明

最大樣品尺寸/重量最大高度140mm，最大重量20kg

工作臺(tái)手動(dòng)X/Y平臺(tái)（移動(dòng)范圍92x150mm），馬達(dá)驅(qū)動(dòng)Z軸（移動(dòng)范圍140mm）

設(shè)備重量約107kg

軟件標(biāo)配WinFTM V.6 LIGHT，可選配BASIC, PDM, SUPER版本

執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)ISO 3497, ASTM B568

主要功能與特點(diǎn)

高精度與穩(wěn)定性：設(shè)備長(zhǎng)期穩(wěn)定性好，測(cè)量精度高。對(duì)于厚度≥0.5μm的鍍層，頂層測(cè)量精度≤5%。

分析能力：除了測(cè)量鍍層厚度，還能分析材料成分和電鍍?nèi)芤?。其FISCHER基本參數(shù)法允許在無標(biāo)準(zhǔn)片的情況下完成測(cè)量。

靈活的樣品適應(yīng)能力：

異形件測(cè)量：從上往下的測(cè)量方向和DCM技術(shù)，使其能輕松分析非平整、復(fù)雜形狀的樣品。

大型樣品：機(jī)身帶有C型槽開口設(shè)計(jì)，可以測(cè)量比內(nèi)部測(cè)量室更長(zhǎng)更寬的樣品，如大型印刷電路板（PCB）。

便捷的操作與觀察：通過高清攝像頭和十字線，可精確定位測(cè)量點(diǎn)，并實(shí)時(shí)觀察測(cè)量過程。

數(shù)據(jù)與統(tǒng)計(jì)功能：軟件可自動(dòng)計(jì)算平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差，并能計(jì)算CP和Cpk值，超差時(shí)自動(dòng)報(bào)警