菲希爾庫侖鍍層測厚儀COULOSCOPE CMS2 STEP

關(guān)鍵技術(shù)參數(shù)

測量范圍：0.02～50 μm（隨鍍層材質(zhì)、退鍍速率可調(diào)）

退鍍速率：0.1～50 μm/min 多檔可選，常規(guī) 1～10 μm/min

測量面積（O 型墊圈）：φ0.6 / 1.5 / 2.2 / 3.2 mm，最小 0.6mm 小區(qū)域精密檢測 PCB、小件端子

內(nèi)置程序庫：近 100 套預(yù)設(shè)鍍層方案（Zn/Fe、Ni/Cu、Cr/Ni/Cu、多層鎳、PCB 錫層等）

數(shù)據(jù)存儲(chǔ)：50 組程序，每組 3000 條測量數(shù)據(jù)，帶均值、標(biāo)準(zhǔn)差、最大 / 最小值統(tǒng)計(jì)

屏幕：彩色液晶，實(shí)時(shí)顯示電壓 / 電位曲線、分層圖譜

接口：USB 數(shù)據(jù)導(dǎo)出、外接 V18 半自動(dòng)測量支架

適用鍍層：鋅、鎳、鉻、銅、錫、鎘等幾乎所有金屬電鍍層；導(dǎo)電基材（金屬 / 導(dǎo)電塑料）

CMS2 STEP 核心功能

STEP 一體化測試：單次測試同時(shí)獲取各層厚度 + 層間電位曲線，自動(dòng)標(biāo)記分層界面

專用 STEP 測量池：固定參比電極距離，保證電位數(shù)據(jù)重復(fù)性，普通 CMS2 無法兼容

多層鎳分層解析：區(qū)分半光鎳、光亮鎳、高硫鎳，量化電位差，判定防腐性能

曲線回溯分析：光標(biāo)定位電位突變點(diǎn)，查看每層厚度、電位差值，可截圖導(dǎo)出報(bào)告