SURTRONIC DUO泰勒霍普森

英國泰勒霍普森（Taylor Hobson）SURTRONIC DUO（常稱 DUO II） 便攜式表面粗糙度儀，這是一款面向車間現(xiàn)場、質(zhì)檢實驗室的分體式觸針式粗糙度測量設(shè)備，兼顧便攜性與高精度。

泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC DUO核心測量原理與結(jié)構(gòu)

測量原理：采用金剛石觸針 + 壓電傳感器的經(jīng)典觸針法；測針以 200mg 小接觸力劃過表面，垂直位移轉(zhuǎn)化為電信號，經(jīng)算法處理得到 Ra、Rz、Rp、Rv、Rt 等標(biāo)準(zhǔn)粗糙度參數(shù)，符合 ISO 4287/4288；測量行程 5mm，速度 2mm/s，截止波長 0.8mm（2CR 濾波）。

分體式 + 藍(lán)牙設(shè)計：顯示控制單元與驅(qū)動測量單元可分離，1 米范圍內(nèi)藍(lán)牙通信；能伸入深孔、型腔、大型工件的難測位置，驅(qū)動端帶觸覺按鈕，單手即可觸發(fā)測量。

工業(yè)耐用性：膠塑機身抗沖擊防塵，2.4 英寸彩色 LCD 強光下清晰，可顯示輪廓圖形；內(nèi)置鋰電池，支持 5000–10000 次測量，Mini-USB 充電，無需復(fù)雜配置，一鍵出結(jié)果。